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NSTAR-200近红外光谱透反射性能测量系统
集透射和反射测量于一体，波段覆盖780-1600nm NSTAR-200近红外光谱透反射测量系统集反射和透射测量功能于一体，用于测量材料的光谱反射率/光谱透过率，测量波段范围覆盖780-1600nm。系统应用远方公司多项专利技术，可快速精确测量近红外宽波段范围内光谱透反射率，系统测量灵敏度高，稳定性、复现性好，杂散光小，可满足较低透反射率的深色样品测量，主要用于各类材料研发实验室。主要特点： ● 兼容反射和透射测量：反射测量d/8，SCI和SCE可选；透射测量为d/0几何； ● 附NPL溯源标准色板，溯源性好； ● 稳定性好，测量精度高，满足较低透反射率的深色样品测量。
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